首页产品介绍电子产业系列JTM-EA6250 落下冲击试验机 JTM-EA6250 落下冲击试验机 询价 下一笔 产品特性 本机采用自由落体冲击试件，过程迅速，可立即获得试验结果，观察试件破碎情形及评估其耐冲击品质，进而了解包装材料对电子产品的保护程度。 为配合设计的改进及更新,以上槼格如有更改,恕不另行通知。 回到列表 无现货, 预订请留言
