首頁產品介紹電子產業系列JTM-EA6250 落下衝擊試驗機 JTM-EA6250 落下衝擊試驗機 詢價 下一筆 產品特性 本機採用自由落體衝擊試件，過程迅速，可立即獲得試驗結果，觀察試件破碎情形及評估其耐衝擊品質，進而了解包裝材料對電子產品的保護程度。 為配合設計的改進及更新,以上規格如有更改,恕不另行通知。 回到列表 無現貨, 預訂請留言
